线对卡X射线

产品编号：20211118-08

经销商：固安县双玉仪器有限公司

原产地：德国

芯片截面

L/S宽度：3，4，5，6，7，8，9，10，15，20，25，30，35，40，45，50μum

16个Au图被放置在8x8mm的Si芯片上。

硅芯片固定在40x30x3mm铝上。

16个Au图被放置在8x8mm的Si芯片上。

规格

外径：W40xD30xT3毫米

硅基芯片尺寸8x8x0.2mm

吸附材料：Au线，厚度≥1.0μm

保护膜：聚酯薄膜，T 0.05mm

线与空间大小：3，4，5，6，7，8，9，10μm(T形布局)

2个图案：15，20，25，30，35，40，45，50μm(仅为形状)

L/S宽度：士15%(3, 4μm)

容度：士10%(5μm及更宽)

线数：每3行集

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注意事项：

第一、放置高分辨率测试卡时候，要求显示器中高分辨率测试卡的影像与扫描线的方向成45度角，减小扫描线对观察时候的影响。

第二、调整X光射线，使得球管的中心在高分辨率测试卡的正上方。

第三、高分辨率测试卡的检测严格的要求不能用栅格。

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产品编号：20211118-08

经销商：固安县双玉仪器有限公司

原产地：德国

线对卡X射线