X光成像分辨率测试卡

产品编号：20211119-02

经销商：固安县双玉仪器有限公司

X线的特性： X线是一种波长很短的电磁波。波长范围为0.0006～50nm。目前X线诊断常用的X线波长范围为0.008～0.031nm(相当于40～150kV时)。在电磁辐射谱中，居γ射线与紫外线之间，比可见光的波长要短得多，肉眼看不见。

对于图像传输系统，由于特定的成像误差，在切向和经向方向(例如，在L.系统中)，更好使用直线组的测试，这些直线组彼此靠近，并且彼此垂直。
为了避免由于所谓的伪锐度造成的错误读数，必须注意图像中可识别的测试组条数与测试的条数一致。be som 测试具有连续变化的空间频率，是群测试的一种特殊形式。它的优点在于避免了由于伪锐度造成的阅读错误。
线和间距/线宽：3至50 um，16英寸

16套左8x8mm Si基座2x2mm的L&S布局

上图为大小为5μm L&S的图像。

Au狭缝数为3行2空间。

宽度从下午3点到10点μm：t形布局

宽度15到50μm：I形状布局LS宽度：

芯片截面

L/S宽度：3，4，5，6，7，8，9，10，15，20，25，30，35，40，45，50μum

16个Au图被放置在8x8mm的Si芯片上。

硅芯片固定在40x30x3mm铝上。

16个Au图被放置在8x8mm的Si芯片上。

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产品编号：20211119-02

经销商：固安县双玉仪器有限公司

X光成像分辨率测试卡