X ray分辨率测试卡

产品编号：20211119-11

经销商：固安县双玉仪器有限公司

宽度从下午3点到10点μm：t形布局

宽度15到50μm：I形状布局LS宽度：

芯片截面

L/S宽度：3，4，5，6，7，8，9，10，15，20，25，30，35，40，45，50μum

16个Au图被放置在8x8mm的Si芯片上。

硅芯片固定在40x30x3mm铝上。

16个Au图被放置在8x8mm的Si芯片上。

规格

外径：W40xD30xT3毫米

硅基芯片尺寸8x8x0.2mm

吸附材料：Au线，厚度≥1.0μm

保护膜：聚酯薄膜，T 0.05mm

线与空间大小：3，4，5，6，7，8，9，10μm(T形布局)

2个图案：15，20，25，30，35，40，45，50μm(仅为形状)

线对卡的使用和维护：

线对卡是对X射线的成像进行分辨力进行测试的装置，该装置通过其本身带有的不同的线对对X射线的成像的图像进行检测，把线对卡至于X射线影像设备之下进行曝光成像，然后观察图像能够显示出多少个线对的数量作为衡量射线设备的分辨力能力时候满足日常检测的分辨率的需要。

本产品由固安县玉双仪器有限公司进行销售，本公司经营各种相对卡、X射线成像分辨率测试卡、相对卡空间分辨力测试线对卡、高对比度分辨力测试卡，种类齐全，销售业务范围广。服务可靠，为您提供各项技术咨询和指导，本公司将竭诚为广大新老客户提供满意的服务。更多相关产品的详细信息请咨询固安县双玉仪器有限公司的相对卡的相关销售工作人员，期待您的到来！

经销商：固安县双玉仪器有限公司

产品编号：20211119-11

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