CR空间分辨率测试卡
产品编号:20211126-05
销售产家:固安县双玉仪器有限公司
分辨率测试卡的结构
吸收体材料
分辨率测试卡的射线吸收体材料用铅箔或者与铅当量相当的金属箔。
铅质栅条与线对
在一定宽度内,均匀地排列着若干条宽度相等、长度为20 mm、厚度为0.05 mm~0.1 mm的铅箔栅条,栅条的间距等于栅条的宽度。一条栅条和与它相邻的一个间距构成一个线对,线对用LP表示。铅箔栅条采用激光技术(或其它技术)刻制而成。
分辨率测试卡的构成
在一定宽度内,均匀地排列着若干组线对组,相邻两组的距离为3 mm;若干组线对数按一定(等比数列或等差数列)顺序排列,各组线对的栅条紧夹在两块厚度为1 mm的有机玻璃板之间,如图1所示。线对组成及图形分布结构按标准规定。
测试卡封装在一个防护盒中
盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×5mm
芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.015mm
图案布局:T型
线/空间尺寸:32种规格图案,
0.1μm,0.15μm,0.2μm,0.25μm,0.3μm,0.35μm,0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm, 0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0,5.0μm,6.0μm7.0μm,8.0μm,9.0μm,10.0μm,
本公司经营线对卡业务和其他相关产品的业务,经营有空间分辨率测试卡,射线线对卡,高分辨率测试卡,20线对测试卡等相关产品,更多产品的详细信息请咨询固安县双玉仪器有限公司,将会给您更加满意的解答,期待您的到来。
产品编号:20211126-05
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