CRDR分辨率测试卡

产品编号：20211126-06

销售产家：固安县双玉仪器有限公司

线对卡是对X射线的成像进行分辨力进行测试的装置，该装置通过其本身带有的不同的线对对X射线的成像的图像进行检测，把线对卡至于X射线影像设备之下进行曝光成像，然后观察图像能够显示出多少个线对的数量作为衡量射线设备的分辨力能力时候满足日常检测的分辨率的需要。

测试卡封装在一个防护盒中

盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×15mm

芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.06mm

图案布局：L型

线/空间尺寸： 16种规格图案

0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm

分辨率测试卡的测试原理

将分辨率测试卡紧贴在工件上(或胶片暗袋)

离射线源较近一侧的表面上,按照一定的工艺条件进行透照,经暗室处理后在底片上能够观察到几组黑白相间的栅条影像,其中观察到栅条刚好分离的一组线对,则该组线对所对应的线对数即为底片(或照相系统)的分辨率。

将分辨率测试卡紧贴在工件上离射线源较近

一侧的表面上(或图像增强器输入屏表面中心区域),按照一定的工艺条件进行透照,在显示器上能够观察到几组黑白相间的栅条影像,其中观察到栅条刚好分离的一组线对,则该组线对所对应的线对数即为图像(或成像系统)的分辨率。

产品编号：20211126-06

销售产家：固安县双玉仪器有限公司