Ｘ光分辨率解析卡

产品编号：20211126-08

销售产家：固安县双玉仪器有限公司

分辨率测试卡，JIMA（日本检测仪器制造商协会），致力于关注各种检测仪器，其中包括无损检测仪器，分辨率测试卡，用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。

线对卡是对X射线的成像进行分辨力进行测试的装置，该装置通过其本身带有的不同的线对对X射线的成像的图像进行检测，把线对卡至于X射线影像设备之下进行曝光成像，然后观察图像能够显示出多少个线对的数量作为衡量射线设备的分辨力能力时候满足日常检测的分辨率的需要。

射线吸收材料

射线吸收材料多为重金属,可以用铅箔或钨箔,标准引进了铅当量的概念,所以就不再提到钨箔,表述为“射线吸收材料用铅箔或与铅当量相当的金属箔。”

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测试卡封装在一个防护盒中

盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×15mm

芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.06mm

图案布局：L型

线/空间尺寸： 16种规格图案

0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm

本公司经营线对卡业务和其他相关产品的业务，更多产品的详细信息请咨询固安县双玉仪器有限公司，将会给您更加满意的解答，期待您的到来。

产品编号：20211126-08

销售产家：固安县双玉仪器有限公司

Ｘ光分辨率解析卡