线对卡30lp/mm

产品编号：20211126-09

销售产家：固安县双玉仪器有限公司

X射线是一种波长极短，能量很大的电磁波，X射线的波长比可见光的波长更短(约在0.001~100纳米，医学上应用的X射线波长约在0.001~0.1纳米之间)，它的光子能量比可见光的光子能量大几万至几十万倍。

综合测试卡

综合测试卡构成见表3,综合测试卡在射线探伤机、工业CT、医用CT、医用X光诊断设备安装、调试中常用到。图4为星形测试卡。

综合测试卡可用于检测图像的分辨率、图像畸变程度、常用灰度等级、亮度、对比度。星形测试卡除上述功能外,还可以用于测量射线源的焦点尺寸。这类测试卡是射线机、工业CT、医用CT、医用X光诊断设备的安装、调试、检测、维修、保养不可少的工具。

检验方法

铅箔厚度试验

将测试卡与事先测定厚度的铅箔并列放置,用X线摄影(摄影条件可选择适当的管电压一般为80kVp,调节MAS值时胶片铅箔部分的密度为0.7左右。比较胶片的黑化程度,调整测试卡的厚度。

辨率范围：

0.6-5.0 l p/mm  0.6-10.0lp/mm

更多的分辨率要求，。

铅当量：0.01PB  0.05PB

线和间距/线宽：3至50 um，16英寸

16套左8x8mm Si基座2x2mm的L&S布局

上图为大小为5μm L&S的图像。

Au狭缝数为3行2空间。

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产品编号：20211126-09

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