X光成像对比度测试卡
产品编号:20211202-10
销售厂家:固安县双玉仪器有限公司
X线影像的形成,应具备以下三个基本条件:首先,X线应具有一定的穿透力;第二,被穿透的组织结构,必须存在着密度和厚度的差异;第三,这个有差别的剩余X线,仍是不可见的,还必须经过显像这一过程。
对于增感屏的测试,线组只按一个方向排列的测试是足够的:由于测试是在盒式磁带上直接进行的,所以不期望在各个方向上的系统误差,几何的方向相关误差不产生影响。
当使用散射辐射网格时,必须考虑到为了避免云纹效应,如果可能的话,线组与次级辐射网格条的角度应小于 45。
数字成像器件共同特性:
组成 的各个像素尺寸决定了成像系统的空间分辨率,以及射线剂量;数 都会有坏像素(包括坏点或坏行)对此必须其进行校正; 的不一致性的校正是获得高像质困像的一个重要的技术环节;受环境的限制。
线与空间大小:3,4,5,6,7,8,9,10μm(T形布局)
2个图案:15,20,25,30,35,40,45,50μm(仅为形状)
L/S宽度:士15%(3, 4μm)
线和间距/线宽:3至50 um,16英寸
16套左8x8mm Si基座2x2mm的L&S布局,上图为大小为5μm L&S的图像。Au狭缝数为3行2空间。
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产品编号:20211202-10
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X光成像对比度测试卡