德国IBA线对卡Type 39b
销售产品编号：20211224-01

产品销售厂家：固安县双玉仪器有限公司

分辨率测试卡，致力于关注各种检测仪器，其中包括无损检测仪器，分辨率测试卡，用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。

线对

一个线对由一根线条和一个间距组成,且间距的宽度等于线条的宽度,以一毫米宽度范围内的线对数表示。

不同线对卡CT扫描时的差异分析

通常来说, 个细节特征能够被发现需要的条件主要有:

(1)细节特征在射线方向上引起的射线变化能够被 发现,此处发现的含义是该变化引起的 输出信号变化要高于噪声。细节特征与背景材料的线衰减系数差比较大,在投影方向上的尺寸大, 灵敏度高,信噪比高,散射线的散射比低等都有利于细节特征的发现。(2)在多少个投影方向上能被发现,如果在所有的投影方向上都被发现,其"回抹1的图像就很清晰,可以认为图像上细节与背景的显示对比度就是线衰减系数的真实对比;反之如果只在部分投影方向上发现,细节就会被模糊,图像上细节与背景的显示对比度要低于细节材料本身线衰减系数与背景的真实对比度。随着能发现的投影方向数目减小,模糊的越来越严重,直到彻底发现不了。此时低密度的细节在CT图像上线衰减系数比实际增加,高密度的细节在CT图像上线衰减系数比实际降低。
销售产品编号：20211224-01

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