Tel:13932682953

Cloud Zoom small image

低分测试模体

产品名称:低分测试模体

产品编码:SY2022010

0.00
当前销售数量:0
 折扣:0折
本单还可以继续购买
数量: 库存 0

低分测试模体

产品名称:低分测试模体

产品编码:SY20220107-1

产品用途:用于检测X射线等设备的低对比度

该模体参考YY/T0741-2009 标准,用于检测X射线等设备的低对比度;

该模体由纯铝组成,模体厚度为20mm

铝板上均布孔径1cm的孔,共计19组;

孔深从0.07mm3.2mm.

本产品的主要用途及外观介绍:

1. 用于CRDR成像系统低对比度细节分辨力检测

2.直径100mm20mm;

3.铝板上均布191cm孔径圆孔

如果您对于本产品有兴趣我公司将非常欢迎您的到来。本公司可提供一系类的服务,无需担心,服务可靠,为您提供各项技术咨询和指导,本公司将竭诚为广大新老客户提供良好的服务



 

测试卡由 20mm 厚的纯铝板制成。20mm 厚铝板上均布孔径10mm 19个孔。     

本公司是一家专业致力于核仪器仪表研制生产和提供核辐射测量技术整体解决方案及应用的高新技术企业。

本公司可以根据客户要求定做加工各种X射线质控设备、装置、设备检测模体。