空间分辨率测试卡
销售产品编号:20221122-08
产品销售制造厂家:固安县双玉仪器有限公司
空间分辨率是指图像中可辨认的临界物体空间几何长度 的小极限,即对细微结构的分辨率。线对卡,空间分辨率测试线对卡,列阵的线对束卡的用途:主要是用来测试X光摄影摄像等成像设备的分辨率能力的,是X射线放射卫生质量控制,质量保证的射线分辨率范围的主要检测装置和测试工具。状态检测:在运行中的设备,为评价其性能指标符合要求而定期进行的质量控制检测。稳定性检测:为确定X射线设备或在给定条件下获得的数值相对于一个初始状态的变化符合控制标准而进行的质量控制检测。周期对系统的成像性能进行持续检测,尤其是对那些依赖定期维护设备。当完成初始灰度级检测后,只需对检测到的图像细节和条形图的数量进行统计,即可量化图像质量。对这些数据的持续追踪记录将有助于用户跟踪系统的性能情况,对可能出现的问题进行及时预判及校准。
芯片截面
L/S宽度:3,4,5,6,7,8,9,10,15,20,25,30,35,40,45,50μum
16个Au图被放置在8x8mm的Si芯片上。
硅芯片固定在40x30x3mm铝上。
16个Au图被放置在8x8mm的Si芯片上。
规格
外径:W40xD30xT3毫米
硅基芯片尺寸8x8x0.2mm
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空间分辨率测试卡
销售产品编号:20221122-08
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空间分辨率是指图像中可辨认的临界物体空间几何长度 的小极限,即对细微结构的分辨率。线对卡,空间分辨率测试线对卡,列阵的线对束卡的用途:主要是用来测试X光摄影摄像等成像设备的分辨率能力的,是X射线放射卫生质量控制,质量保证的射线分辨率范围的主要检测装置和测试工具。状态检测:在运行中的设备,为评价其性能指标符合要求而定期进行的质量控制检测。稳定性检测:为确定X射线设备或在给定条件下获得的数值相对于一个初始状态的变化符合控制标准而进行的质量控制检测。周期对系统的成像性能进行持续检测,尤其是对那些依赖定期维护设备。当完成初始灰度级检测后,只需对检测到的图像细节和条形图的数量进行统计,即可量化图像质量。对这些数据的持续追踪记录将有助于用户跟踪系统的性能情况,对可能出现的问题进行及时预判及校准。
芯片截面
L/S宽度:3,4,5,6,7,8,9,10,15,20,25,30,35,40,45,50μum
16个Au图被放置在8x8mm的Si芯片上。
硅芯片固定在40x30x3mm铝上。
16个Au图被放置在8x8mm的Si芯片上。
规格
外径:W40xD30xT3毫米
硅基芯片尺寸8x8x0.2mm
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空间分辨率测试卡
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空间分辨率是指图像中可辨认的临界物体空间几何长度 的小极限,即对细微结构的分辨率。线对卡,空间分辨率测试线对卡,列阵的线对束卡的用途:主要是用来测试X光摄影摄像等成像设备的分辨率能力的,是X射线放射卫生质量控制,质量保证的射线分辨率范围的主要检测装置和测试工具。状态检测:在运行中的设备,为评价其性能指标符合要求而定期进行的质量控制检测。稳定性检测:为确定X射线设备或在给定条件下获得的数值相对于一个初始状态的变化符合控制标准而进行的质量控制检测。周期对系统的成像性能进行持续检测,尤其是对那些依赖定期维护设备。当完成初始灰度级检测后,只需对检测到的图像细节和条形图的数量进行统计,即可量化图像质量。对这些数据的持续追踪记录将有助于用户跟踪系统的性能情况,对可能出现的问题进行及时预判及校准。
芯片截面
L/S宽度:3,4,5,6,7,8,9,10,15,20,25,30,35,40,45,50μum
16个Au图被放置在8x8mm的Si芯片上。
硅芯片固定在40x30x3mm铝上。
16个Au图被放置在8x8mm的Si芯片上。
规格
外径:W40xD30xT3毫米
硅基芯片尺寸8x8x0.2mm
销售产品编号:20221122-08
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