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X线分辨率测试卡

本公司廊坊玉双仪器设备有限公司定制亚克力材质实验装置,性能检测模体等射线检测实验装置,产品销售编号:

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X线分辨率测试卡

本公司廊坊玉双仪器设备有限公司定制亚克力材质实验装置,性能检测模体等射线检测实验装置,产品销售编号:20230906-01。

线对卡产品状态:现货 线对卡型号:type38型 81型 39型18型等多种型号和规格欢迎广大新老客户咨询订购产品。产品采用塑料盒包装 防潮 防震能够抵抗运输途中的破损风险。

分辨率测试卡是一种用于设置和测试微焦 X 射线系统的光刻生产的测试模式。它支持 0.1 µm 和 10 µm 之间的分辨率,对应于 0.2 µm 和 20 µm 之间的焦斑尺寸。不同距离的线束应用于硅载体JIMA RT RC-04分辨率测试卡特点:测试卡封装在一个防护盒中盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×5mm芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.015mm图案布局:T型线/空间尺寸:32种规格图

使用说明:

限束器分和摄影两种,使用时应尽量缩小照射野,减少不必要的照射面积,有利于减小辐射损伤,同时可抑制散射线。

 本产品由廊坊玉双仪器设备有限公司进行销售,本公司经营各种相对卡、X射线成像分辨率测试卡、相对卡空间分辨力测试线对卡、高对比度分辨力测试卡,种类齐全,销售业务范围广。服务可靠,为您提供各项技术咨询和指导,本公司将竭诚为广大新老客户提供优质的服务。X线分辨率测试卡


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线对卡产品状态:现货 线对卡型号:type38型 81型 39型18型等多种型号和规格欢迎广大新老客户咨询订购产品。产品采用塑料盒包装 防潮 防震能够抵抗运输途中的破损风险。

分辨率测试卡是一种用于设置和测试微焦 X 射线系统的光刻生产的测试模式。它支持 0.1 µm 和 10 µm 之间的分辨率,对应于 0.2 µm 和 20 µm 之间的焦斑尺寸。不同距离的线束应用于硅载体JIMA RT RC-04分辨率测试卡特点:测试卡封装在一个防护盒中盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×5mm芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.015mm图案布局:T型线/空间尺寸:32种规格图

使用说明:

限束器分和摄影两种,使用时应尽量缩小照射野,减少不必要的照射面积,有利于减小辐射损伤,同时可抑制散射线。

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分辨率测试卡是一种用于设置和测试微焦 X 射线系统的光刻生产的测试模式。它支持 0.1 µm 和 10 µm 之间的分辨率,对应于 0.2 µm 和 20 µm 之间的焦斑尺寸。不同距离的线束应用于硅载体JIMA RT RC-04分辨率测试卡特点:测试卡封装在一个防护盒中盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×5mm芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.015mm图案布局:T型线/空间尺寸:32种规格图

使用说明:

限束器分和摄影两种,使用时应尽量缩小照射野,减少不必要的照射面积,有利于减小辐射损伤,同时可抑制散射线。

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