放大率一致性测试卡
产品名称:放大率一致性测试卡
产品编号:20250206-09
产品质保:12个月
产品简介:X射线成像放大率一致性测试卡作为精密检
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放大率一致性测试卡
产品名称:放大率一致性测试卡
产品编号:20250206-09
产品质保:12个月
产品简介:X射线成像放大率一致性测试卡作为精密检测工具,其核心参数包括基板尺寸、材料密度、标准标记点间距及铅箔厚度等,常见规格如基板采用高纯度铝或高分子复合材料制成,尺寸范围覆盖50mm至200mm以满足不同设备视野需求,表面嵌入的铅制标记阵列或网格结构精度达微米级,铅箔厚度通常控制在0.03-0.05mm以平衡X射线穿透性与成像对比度。该测试卡通过内置的规则几何图案(如等距同心圆、正交网格或矩阵点阵)量化评估X射线系统在不同成像区域的放大倍率偏差,其用途主要集中于放射卫生疗影像设备与工业无损检测领域,例如在放射卫生疗场景中,可验证CT机、DR设备或移动C型臂在不同投照角度下的图像几何失真度,确保病灶尺寸测量的准确性;在工业检测中则用于校准微焦点X射线机的投影畸变,防止电子元器件、焊接点等微观结构的尺寸误判。测试时需将卡片置于被测物体与探测器之间的标准位置,通过分析成像中标记点的实际间距与理论值的比例关系,计算系统放大率的空间一致性,典型应用场景包括设备安装验收、定期质控检测及维修后性能验证,其数据可为设备校准提供直接依据,有效避免因放大率漂移导致的诊断误差或工业品控失效。部分型号还集成温湿度耐受特性,适应-20℃至60℃的复杂工况环境,确保检测结果的长期稳定性。
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是否可以非标订制:可以按照客户要求非标定制:放大率一致性测试卡
产品编号:20250206-09