TO20低对比度细节测试模体
产品名称:TO20低对比度细节测试模体
产品编号:20250220-10
产品质保:12个月
产品简介:TO20和TO16低对比度细节测试模体是用于快速定量评估X射线影像系统成像质量的关键工具,两者均采用直径250mm、厚度10mm的圆板结构,板内嵌有12组不同尺寸的细节阵列,每组包含12个不同直径的圆形细节,共计144个测试点。细节直径范围从0.25mm至11mm,对比度在75kV电压及1.5mm铜滤过条件下覆盖0.0014至0.924的宽泛区间,能够模拟从极微弱到显著差异的成像条件。TO16型模体专为计算机数字X线摄影系统(CR/DR)设计,通过分析系统对低对比度细节的阈值探测能力(TCDD),直接反映设备的信噪比和低对比度分辨力,其测试结果可绘制阈值检测指数曲线,用于综合评价设备性能。而TO20型模体在保留TO16基础参数的同时,扩展了应用场景至透视和血管造影系统,支持60kV、65kV、70kV、80kV等多档电压条件下的影像质量评估,尤其适合动态成像场景下的质量控制。两种模体均符合WS标准,通过定期检测可帮助放射卫生院和质控人员结合受检者剂量数据,实现图像质量与辐射安全的双维度优化,例如在DR设备调试中,既能验证检测量子效率(DQE)的提升效果,又能评估曝光宽容度对临床图像的影响。其核心价值在于将主观影像评价转化为客观量化指标,例如通过144个细节点的可探测性分布,定位系统在特定对比度或尺寸阈值下的性能瓶颈,为设备维护、参数校准及技术升级提供数据支撑。
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是否可以非标订制:可以按照客户要求非标定制:TO20低对比度细节测试模体
产品编号:20250220-10